DXR3xi Mikroskop

O přístroji
Aplikace
Více
Příslušenství

Nový Ramanův mikrospektrometr Thermo Scientific DXR3xi posouvá Ramanovu mikroskopii na zcela novou uživatelskou úroveň. Unikátní je zcela nové řešení synchronizace pohybu piezoelektricky řízeného stolku mikroskopu s EMCCD detektorem. Všechny komponenty systému (lasery, mřížky, filtry) jsou uživatelsky vyměnitelné a automaticky detekovatelné, řídicí program také umožňuje optimalizaci všech parametrů systému v reálném čase. Kombinace těchto faktorů vede k intenzivnímu zjednodušení analýzy všech typů materiálů Ramanovou mikro-spektroskopií.

Autoexpozice a autofokus – jako u digitálních fotoaparátů. Již žádné hledání optimálních parametrů a měření metodou: “pokus – omyl”!
3D vizualizační software, funkce Particle Analysis pro analýzu mikroplastů atd.
Prostorové rozlišení 540 nm v osách X a Y, hloubkové rozlišení cca 1,7 mikrometrů (osa Z).
Více než pět různých excitačních laserů pro optimální získání spektra obtížných vzorků.
Regulátor výkonu laseru pro stálý dodávaný výkon laseru na vzorku.
Konfokální design, vynikající vizuální kvalita. Reflexní a transmisní osvit vzorku, fluorescenční iluminace.
Patentovaný systém rychlé automatické justáže pro maximální výkon.
Rychlá, automatická mnohobodová kalibrace pro jistotu v identifikaci vzorků: DynaCal automatická kalibrace osy X.
Kompatibilita s mnoha kvalitními mikroskopickými díly značky Olympus.
Laserová bezpečnost třídy 1 – nejsou potřeba žádné úpravy pracoviště.
Kompletní balíček DQ/IQ/OQ/PQ validačních protokolů + CFR 21 part 11 compliance.
Možnost automatické polarizace.
Možnost kombinace Ramanovy a elektronové mikroskopie Raman-SEM

Novinkou je zejména bezkonkurenční rychlost získávání dat, během několika desítek minut lze získat milióny Ramanových spekter a s rozlišením 0,5 mikrometrů tak zmapovat např. celou farmaceutickou tabletu! Ramanovy mikroskopy DXR3 a DXR3xi lze také rychle spojit s AFM mikroskopy různých výrobců a současně získávat informace o strukturálních a topografických vlastnostech povrchu materiálu, a to v jednotkách nanometrů. Samozřejmostí je také možnost TERS, SPM atd. Spojení měřicích technik Ramanova mikroskopie a AFM je logickým řešením např. pro materiálové inženýrství a další obory zkoumající povrchy různých materiálů.

Další možností je kombinace Ramanovy a elektronové mikroskopie: Raman-SEM correlative microscopy. Pro více informací nás neváhejte kontaktovat.