IR-neaSCOPE+TERs je revolucí v nano-spektroskopii díky kombinaci techniky nano-FTIR a Ramanovy spektroskopie, čímž poskytuje kompletní spektrální analýzu.
- Stejné místo vzorku je analyzováno zároveň pomocí nano-FTIR i nano-Ramanovy/PL spektroskopie
- Maximální signál TERS i se standardními sondami AFM
- Jediné uživatelské rozhraní pro všechny módy měření optimalizované pro práci s multidimenzionálními korelovanými daty
- Součástí systému jsou moduly pro s-SNOM, nano-FTIR, nano-PL a TERS
- Využití ve výzkumu polymerů, vlnovodů, nanotechnologiích, uhlíkových nanomateriálů, grafenu, anorganických látek, polovodičů, biovědách, fotovoltaice a dalších
Kombinuje nano-FTIR s technikou TERS a fotoluminiscenčními (PL) měřeními pro ultimátní charakterizaci elastického a neelastického rozptylu záření ze stejného místa vzorku v nanoměřítku a umožňuje jednoduchý postup alignmentu pomocí doplňkového infračerveného nebo viditelného rozptylu, který poskytuje spolehlivá data pro všechny použité techniky i se standardními metalizovaný AFM hroty.
IR-neaSCOPE+s umožňuje IR imaging a nano-FTIR spektroskopii pomocí detekce záření odraženého od standardního AFM hrotu. Jedná se o univerzální řešení pro všechny typy materiálů. Měří simultánně absorpci i odražené záření a používá nejrychlejší a nejspolehlivější moduly pro nano-imaging a nano-spektroskopii.
IR-neaSCOPE+fs je navržený pro pump-probe spektroskopii s 10fs časovým a 10nm prostorovým rozlišením: umožňuje ultrarychlou vědu v nanoměřítku.
VIS-neaSCOPE+s umožňuje měření polarizačně rozlišených map v blízkém poli a analýzu elektromagnetického pole vzorku: fáze i amplitudy.
IR-neaSCOPE je základní model pro infračervený imaging a nano-spektroskopii. Poskytuje maximální výkon bez poškození vzorku. Jedná se o cenově výhodné řešení pro vzorky s velkým koeficientem teplotní roztažnosti.
THz-neaSCOPE+s je všestranná platforma pro nano-imaging a spektroskopii v terahertzové (THz) oblasti.
cryo-neaSCOPE+xs je průkopnický přístroj pro optický imaging a spektroskopii v nanoměřítku v extrémním kryogenním prostředí.
SNOM (optická skenovací mikroskopie v blízkém poli, near field scanning optical microscopy či NSOM) je mikroskopická technika, která překonává rozlišovací limit díky vlastnostem tlumených vln. Vzdálenost detektoru a vzorku je při měření menší než vlnová délka světla a v optické mikroskopii se používá mimo jiné pro svou schopnost zvýšit kontrast nanočástic.