Nicolet CZ v této oblasti úzce spolupracuje s německou společností Neaspec. Pomocí SNOM mikroskopů Neaspec s prostorovým rozlišením až 10 nanometrů je možné provádět velmi rychlé mapovací měření od viditelné až po terahertzovou oblast elektromagnetického spektra, a to včetně přímého získávání FT-IR spekter z plochy vzorku cca 10 nanometrů!

Tato metoda je vhodná např. pro studium indexu lomu, zjišťování chemické struktury, sledování mechanické deformace, mapování povrchů (AFM) a rozložení náboje nebo charakterizaci hot spotů (SERS). Pro větší variabilitu experimentů je k dispozici také systém cryo-neaSNOM pro měření v kryogenických podmínkách nebo širokopásmový laser schopný excitace v rozsahu 5 – 15 mikrometrů.

Hlavní analytické aplikace IR mikroskopie v blízkém poli:

• Biomateriály (proteiny, viry)
• Grafen (vizualizace Diracových plasmonů, mapování povrchů nanovrstev)
• Nanostruktury (ultra-rychlá spektroskopie nanovláken)
• Plasmonické struktury (analýza nano-antén, povrchových phononů)
• Polymery (mapování polymerních směsí, topografie povrchů + identifikace polymerů)
• Polovodiče (Terahertz mikroskopie SiO/Si struktur, organické polovodiče, mapování lokální vodivosti)

• Analýza sekundární struktury proteinových komplexů
• Studium strukturních změn ve virových obálkách
• Grafenové plazmony
• Grafenové plazmony s rezonujícími anténami a měření vodivosti
• Ultrarychlá spektroskopie elektrických nanopohybů v nanovodičích
• Analýza optických nanoantén
• Charakterizace optických povrchových vln
• Nano-FTIR spektroskopie oblasti "otisku palce" s 20nm prostorovým rozližením
• Terahertzová mikroskopie v blízkém poli s lepším než 30nm prostorovým rozlišením
• Nano-imaging: neuspořádanost molekul v organických polovodičích