+420 602 325 829 / info@nicoletcz.cz

VIS-neaSCOPE+s

VIS-neascope+s_sqr

VIS-neaSCOPE+s

VIS-neaSCOPE+s umožňuje měření polarizačně rozlišených map v blízkém poli a analýzu elektromagnetického pole vzorku: fáze i amplitudy.

  • Kompletní charakterizace vlnového útlumu, modového profilu a disperze
  • Amplitudově a fázově rozlišená detekce místních elektromagnetických polí
  • Zaručený výkon v celém viditelném spektru
  • Díky patentované technologii je možné měřit 100% bez potřeby měření pozadí
  • Ultrastabilní ostření bez aberací
Analýza jednotlivých molekul ferritinu

Tento systém pokrývá celý rozsah potřebný pro plazmonické aplikace díky flexibilním možnostem osvětlení, detekce a zaostření na vzorek nebo hrot. Je snadno rozšiřiřitelný o modul AFM-IR a nano-FTIR.

IR-neaSCOPE+s umožňuje IR imaging a nano-FTIR spektroskopii pomocí detekce záření odraženého od standardního AFM hrotu. Jedná se o univerzální řešení pro všechny typy materiálů. Měří simultánně absorpci i odražené záření a používá nejrychlejší a nejspolehlivější moduly pro nano-imaging a nano-spektroskopii.
IR-neaSCOPE+fs je navržený pro pump-probe spektroskopii s 10fs časovým a 10nm prostorovým rozlišením: umožňuje ultrarychlou vědu v nanoměřítku.
IR-neaSCOPE je základní model pro infračervený imaging a nano-spektroskopii. Poskytuje maximální výkon bez poškození vzorku. Jedná se o cenově výhodné řešení pro vzorky s velkým koeficientem teplotní roztažnosti.
THz-neaSCOPE+s je všestranná platforma pro nano-imaging a spektroskopii v terahertzové (THz) oblasti.
IR-neaSCOPE+TERs je revolucí v nano-spektroskopii díky kombinaci techniky nano-FTIR a Ramanovy spektroskopie, čímž poskytuje kompletní spektrální analýzu.
cryo-neaSCOPE+xs je průkopnický přístroj pro optický imaging a spektroskopii v nanoměřítku v extrémním kryogenním prostředí.
SNOM (optická skenovací mikroskopie v blízkém poli, near field scanning optical microscopy či NSOM) je mikroskopická technika, která překonává rozlišovací limit díky vlastnostem tlumených vln. Vzdálenost detektoru a vzorku je při měření menší než vlnová délka světla a v optické mikroskopii se používá mimo jiné pro svou schopnost zvýšit kontrast nanočástic.

Poptávka produktu

Ozveme se vám co nejdříve.

Teší nás, že se chcete

PŘIHLÁSIT NA NÁŠ KURZ

Přihláška
na školení

Těšíme se na vás!