+420 602 325 829 / info@nicoletcz.cz

Nicolet RaptIR X

RaptIR

Nicolet RaptIR X

Ostrý zrak. Přesné zamíření. Rychlý zásah.

Nový FTIR mikroskop Nicolet RaptIR X navazuje na úspěšnou platformu RaptIR a přináší větší flexibilitu v konfiguraci i samotném používání. Je určen pro analýzu mikroskopických částic, vláken, vrstev, nečistot, defektů, inkluzí i dalších složitých vzorků, u kterých je potřeba propojit kvalitní optické zobrazení s chemickou informací získanou pomocí FTIR spektroskopie.

Samostatný FTIR mikroskop

Zásadní změnou oproti předchozí generaci je možnost samostatného provozu. RaptIR X už není nutné pořizovat jako nástavec ke klasickému FTIR spektrometru – základní konfigurace obsahuje vlastní FTIR systém pro střední infračervenou oblast.

Pokud však laboratoř potřebuje další možnosti, lze RaptIR X propojit se spektrometry Nicolet Apex nebo Nicolet iS50. Vzniká tak systém, který lze přizpůsobit konkrétním požadavkům – od samostatné FTIR mikroskopie až po kombinaci více spektrálních oblastí a analytických technik. Při spojení s iS50 je například možné využít také NIR mikroskopii.

Skutečné 5µm prostorové rozlišení

Jednou z hlavních předností RaptIR X zůstává reálné prostorové rozlišení 5 µm v infračervené oblasti. Nejde pouze o softwarové dopočítávání detailů – systém umožňuje skutečně rozlišovat velmi malé struktury přímo v IR měření. Optická část nabízí rozlišení až 1 µm, takže lze přesně najít místo, které chceme následně chemicky analyzovat.

To je důležité například při analýze vícevrstvých materiálů, částic, mikroplastů, povrchových nečistot nebo drobných defektů, kde může být rozhodující právě několik mikrometrů.

Od obrazu ke spektru

RaptIR X propojuje optickou mikroskopii, FTIR spektroskopii a chemické mapování. Uživatel tak může nejprve vzorek vizuálně prozkoumat, vytvořit obraz nebo mapu vybrané oblasti, přesně zaměřit požadované místo a následně získat jeho infračervené spektrum.

Díky rychlému měření lze získávat až 10 spekter za sekundu, což umožňuje efektivně provádět chemické mapování, analýzu částic nebo mapování větších ploch.

Jeden mikroskop, různé způsoby měření

RaptIR X umožňuje volit způsob měření podle charakteru vzorku. K dispozici je transmisní, reflexní a mikro-ATR měření, přičemž systém lze dále vybavit specializovaným příslušenstvím, například diamantovým nebo germaniovým ATR, zobrazovacím ATR či objektivem pro měření při velkých úhlech dopadu.

Díky dlouhé pracovní vzdálenosti a nosnosti stolku až 5 kg si poradí nejen s drobnými částicemi a mikrovlákny, ale také s většími nebo nepravidelnými vzorky o tloušťce až 40 mm.

Flexibilita i v oblasti detektorů

RaptIR X nabízí několik možností detekce. Základní konfigurace využívá detektor DLaTGS, k dispozici jsou však také uživatelsky vyměnitelné detektory MCT-A, MCT-B, TEC-MCT a InGaAs.

Konfiguraci tak lze přizpůsobit požadované citlivosti, spektrálnímu rozsahu i konkrétní aplikaci. InGaAs detektor navíc umožňuje rozšířit mikroskopii do blízké infračervené oblasti.

Automatizace, která nezdržuje

RaptIR X je navržen tak, aby byl použitelný jak pro zkušené spektroskopiky, tak pro uživatele, kteří s FTIR mikroskopií teprve začínají. OMNIC Paradigm nabízí asistované pracovní postupy, automatické zaostření, automatizaci nastavení, analýzu částic, chemické mapování a zpracování spekter.

Zkušený analytik přitom neztrácí kontrolu nad měřením – pokročilé možnosti umožňují upravovat parametry akvizice i zpracování dat podle konkrétního experimentu.

Pro výzkum i průmyslovou analýzu

RaptIR X najde uplatnění všude tam, kde je potřeba zjistit chemické složení velmi malých nebo prostorově nehomogenních částí vzorku. Typickými aplikacemi jsou například:

  • analýza polymerů a vícevrstvých materiálů,
  • identifikace částic a mikroplastů,
  • hledání kontaminací a nečistot,
  • analýza defektů a příčin selhání materiálů,
  • farmaceutický výzkum,
  • elektronika a pokročilé materiály,
  • forenzní analýza,
  • geologie a mineralogie,
  • restaurování a výzkum kulturního dědictví,
  • kontrola kvality a vývoj výrobků.

RaptIR X: mikroskop, který může růst s laboratoří

Nový RaptIR X zachovává to, co bylo na platformě RaptIR zásadní – přesné zaměření, vysoké prostorové rozlišení a rychlou FTIR analýzu – a přidává výrazně větší volnost v konfiguraci.

Může fungovat jako samostatný FTIR mikroskop, ale současně zůstává otevřený budoucímu rozšíření o další detektory, příslušenství nebo propojení s FTIR spektrometry Nicolet Apex a iS50. Laboratoř tak nemusí předem rozhodnout, jaké všechny analytické možnosti bude potřebovat za několik let.

RaptIR X jednoduše umožní zaměřit se na to podstatné – najít i velmi malou část vzorku a zjistit, z čeho skutečně je.

Poptávka produktu

Ozveme se vám co nejdříve.

Teší nás, že se chcete

PŘIHLÁSIT NA NÁŠ KURZ

Přihláška
na školení

Těšíme se na vás!