Měření fotoluminiscenčních spekter (PL spektra) je jednou ze základních charakterizačních metod analýzy kvality různých materiálů (zejména polovodičů). Hlavní aplikací Mini PL 110 je výroba/QC polovodičů (wafer analysis) ZnO, GaN, AlGaN, SiC etc. Pomocí této techniky lze získat např. informace o složení slitiny, bandgap a edge efektech, dopantech polovodiče atd. Možnost simultánního měření UV rezonančních Ramanových spekter také dále umožňuje lepší charakterizaci měřených materiálů.

Popis a možnosti systému Mini PL 110:

• Spektrometr pracující za pokojové teploty: PL a Ramanova spektra (možností je i SERS).
• V základní sestavě měření vzorků až do velikosti 50 mm.
• Excitace 5,5 eV (224 nm, HeAg laser), nebo 5,0 eV (248,6 nm, NeCu laser).
• Monochromátor: 1/8 M Czerny-Turner (f/3,9), 2 pozice na mřížky, řízeno softwarem.
• Systém umožňuje uživatelskou přenositelnost: Pelican case kufry pro transportaci.
• Velikost systému 15 x 18 x 36 cm, váha cca 8 kg (dle konfigurace).
• Možnost vysokého rozlišení (až 0,2 nm).
• Softwarem řízený výběr mřížek a kalibrace systému.
• Mřížka 1200 g/mm (300 nm peak), 3600 g/mm mřížka (250 nm peak) atd.
• Software Labview, softwarová kontrola laseru, spektrografu, detektoru, úpravy získaných spekter, konverze do jiných formátů atd.
• Manuální X-Y-Z stolek, nebo motorizovaný mapovací stolek (např. 50 x 50 mm).
• Možnost chlazení vzorků kapalným dusíkem (cooling stage). U polovodičových materiálů umožňuje chlazení vzorků přímý výpočet kvantové účinnosti a precizní analýzu defektů