SNOM (optická skenovací mikroskopie v blízkém poli, near field scanning optical microscopy či NSOM) je mikroskopická technika, která překonává rozlišovací limit díky vlastnostem tlumených vln. Vzdálenost detektoru a vzorku je při měření menší než vlnová délka světla a v optické mikroskopii se používá mimo jiné pro svou schopnost zvýšit kontrast nanočástic.