Difrakční limit je omezení, které určuje, jak malé objekty můžete pomocí dané vlnové délky studovat: prostorové rozlišení je tak přímo úměrné použité vlnové délce a například pomocí zeleného světla o vlnové délce 500 nm rozlišíte dva body, které k sobě mohou být nejblíže 250 nm. Existuje řada technik, které jej dokáží překonat, ale technologie SNOM se vydává ještě mnohem dál: díky jeho jedinečnému principu můžete měřit nanoobjekty s prostorovým rozlišením až 10 nm. Využívá vlastností vln v tzv. blízkém poli, a jeho prostorové rozlišení tak závisí pouze na velikosti použitého hrotu, který se pohybuje nad vzorkem.
Pokud byste se o této výjimečné technologii chtěli dovědět více, rádi bychom vás pozvali na webinář, který se bude konat 7. července 2021. Dozvíte se na něm základní princip SNOM, uvidíte řadu zajímavých příkladů z praxe, při kterých se dá SNOM využít, a zjistíte, jak se pomocí této metody dají měřit mechanické, elektrické a termální vlastnosti vzorků.