Infračervená mikroskopie blízkého pole umožňuje studovat šíření povrchových vln. Snímky blízkého pole s amplitudovým a fázovým rozlišením odhalují lokální interferenční efekty a umožňují stanovení komplexního vlnového vektoru povrchových vln. Povrchové vlny mohou být excitovány ve střední infračervené oblasti (např. kovové struktury na krystalech karbidu křemíku (SiC), propagující povrchové fononové polaritony, SPhP).
Topografický snímek ukazuje kruhovou strukturu používanou k buzení SPhPs. SPhPs se šíří kolmo k okraji kovového filmu a zakřivená struktura vede k zaostřovacímu efektu vln. Snímek amplitudy v blízkém poli jasně odhaluje lokálně zesílený signál asi 40 µm daleko od této struktury. Lze si všimnout, že kovová struktura je osvětlena rovinnou vlnou (používanou k buzení SPhPs), která zasahuje do pole povrchových vln. Infračervenou mikroskopii blízkého pole lze tak efektivně použít pro amplitudově a fázově rozlišené studie (např. „spoof plazmony“).
